矿石分析仪-X荧光分析仪-直读光谱仪,碳硫分析仪-沈阳帅萍商贸有限公司

X荧光分析仪

产品简介：

利用低能X光管进行激发，采用国外先进的半导体电制冷探测器，为粉末样抽真空测量设计的上照式结构，2048道数字化多道脉冲分析技术对X射线光谱进行精细分析，是现代分析化学重要的分析手段之一。

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性能参数	能量分辨率分析精度RSD Min检出限测定范围元素含量分析范围分析时间	100±5eV ≤0.05% Na≤0.1%；Mg、Al、Si≤0.05%；P、S、Cl、K、Ca、Ti、V、Cr、Mn、Fe≤0.001% 9F~92U 1ppm—99.99% 30-200秒（时间可选）
硬件结构	光路结构样品旋转台 X射线管 1次滤光片真空系统自动进样器圆柱腔体冷却方式制冷方式类型	适合粉末样品检测的上照式结构电压：24V，电流：1.5A，旋转速度：4r/s Ag靶 5种（含OPEN为6种）自动切换功率550W，抽气时间：10秒，抽气速率：4升/秒，真空度：10-2pa，内置停泵防返油装置 350mm(D)×300mm(W)×500mm(H)，行程150mm 170×39mm 风冷（附风扇）电子制冷（无需液氮）硅漂移检测器（FAST-SDD）
环境与操作条件	测试环境温度相对湿度电源	大气、真空 10~30℃（温度变化2℃hr以内、温度变化幅度在10℃以下） 35%-70%（但不得有结露）输入电压：电压 AC220V±10V，频率：50Hz±5Hz
分析测试	分析原理分析方法测试对象照射面积	X射线荧光分析法能量色散型固体·液体·粉末 1、3、5、10mmΦ：4种自动切换
尺寸重量	主机尺寸主机重量	700650800mm 约85kg

独特的上照射式光路结构，测量粉末样品，具有光路短、激发效率高、不污染探测器、维护方便、测量精度高、稳定性能好等优点。

仪器分辨率优于100ev，对Na、Mg、Al等轻元素分辨率优于60ev，有效的提高了元素特别Na、Mg、Al等轻元素的检出限。

采用有专门控制单位的真空系统，30分钟不漏气，内置停泵防返油装置，充气时不返油到检测单元，大大提高了Na、Mg、Al、Si轻元素的检测灵敏度。

采用自动寻峰、S标样测量等方式，通过校准S标样达到校准工作曲线的目的，确保了仪器短期稳定性和长期稳定性，一般一年标定一次，无需频繁标定。

置顶

性能参数	能量分辨率分析精度RSD Min检出限测定范围元素含量分析范围分析时间	100±5eV ≤0.05% Na≤0.1%；Mg、Al、Si≤0.05%；P、S、Cl、K、Ca、Ti、V、Cr、Mn、Fe≤0.001% 9F~92U 1ppm—99.99% 30-200秒（时间可选）
硬件结构	光路结构样品旋转台 X射线管 1次滤光片真空系统自动进样器圆柱腔体冷却方式制冷方式类型	适合粉末样品检测的上照式结构电压：24V，电流：1.5A，旋转速度：4r/s Ag靶 5种（含OPEN为6种）自动切换功率550W，抽气时间：10秒，抽气速率：4升/秒，真空度：10-2pa，内置停泵防返油装置 350mm(D)×300mm(W)×500mm(H)，行程150mm 170×39mm 风冷（附风扇）电子制冷（无需液氮）硅漂移检测器（FAST-SDD）
环境与操作条件	测试环境温度相对湿度电源	大气、真空 10~30℃（温度变化2℃hr以内、温度变化幅度在10℃以下） 35%-70%（但不得有结露）输入电压：电压 AC220V±10V，频率：50Hz±5Hz
分析测试	分析原理分析方法测试对象照射面积	X射线荧光分析法能量色散型固体·液体·粉末 1、3、5、10mmΦ：4种自动切换
尺寸重量	主机尺寸主机重量	700650800mm 约85kg